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公司專業發研發團隊開創了全新一代 EFP 核心算法，開發了高集成的四焦技術、閉環移動控制及 AI 影像識別高精度上照式X熒光膜厚儀。為微小面積、異形高低面、多層多元素與不同層同元素的檢測提供穩定高效的無損自動檢測解決方案。高精度上照式X熒光膜厚儀廣泛的應用于環保、涂鍍層、糧食、地質地礦、電子元器件、LED 和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造域。

公司專業發研發團隊開創了全新一代 EFP 核心算法，開發了高集成的四焦技術、閉環 移動控制及 AI 影像識別全自動X射線膜厚儀。為微小面積、異形高低面、多層多元素與不同層同元素的檢測提供穩定高效的無損自動檢測解決方案。全自動X射線膜厚儀廣泛的應用于環保、涂鍍層、糧食、地質地礦、電子元器件、LED 和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造域。

公司擁有業的研發團隊，開創了全新一代 EFP 核心算法，開發了高集成的四焦技術、閉環 移動控制及 AI 影像識別，全自動鍍層測厚儀。為微小面積、異形高低面、多層多元素與不同層同元素的檢測提供穩定高效的無損自動檢測解決方案。 公司產品廣泛的應用于環保、涂鍍層、糧食、地質地礦、電子元器件、LED 和照明、家 用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造域。

公司擁有業的研發團隊，開創了全新一代 EFP 核心算法，開發了高集成的四焦技術、閉環 移動控制及 AI 影像識別，磁材鎳銅鎳測厚儀。為微小面積、異形高低面、多層多元素與不同層同元素的檢測提供穩定高效的無損自動檢測解決方案。 公司產品廣泛的應用于環保、涂鍍層、糧食、地質地礦、電子元器件、LED 和照明、家 用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造域。

公司擁有業的研發團隊，開創了全新一代 EFP 核心算法，開發了高集成的四焦技術、閉環 移動控制及 AI 影像識別，磁鋼鎳銅鎳測厚儀。為微小面積、異形高低面、多層多元素與不同層同元素的檢測提供穩定高效的無損自動檢測解決方案。 公司產品廣泛的應用于環保、涂鍍層、糧食、地質地礦、電子元器件、LED 和照明、家 用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造域。